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  • 光譜橢偏儀

光譜橢偏儀

簡要描述:SE-VM是一款高精度快速測量光譜橢偏儀??蓪崿F科研/企業級高精度快速光譜橢偏測量,支持多角度,微光斑,可視化調平系統等高兼容性靈活配置,多功能模塊定制化設計。

  • 產品型號:SE-VM
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2020-10-21
  • 訪  問  量:218

產品介紹

品牌其他品牌價格區間面議
產地類別國產應用領域醫療衛生,環保,電子,綜合

      SE-VM是一款高精度快速測量光譜橢偏儀??蓪崿F科研/企業級高精度快速光譜橢偏測量,支持多角度,微光斑,可視化調平系統等高兼容性靈活配置,多功能模塊定制化設計。

一、概述

      SE-VM 是一款超高精度快速測量光譜儀,其采用行業的橢偏創新技術,具備 1 雙旋轉補償器同步控制技術,2 透明基底消背反技術 等技術??焖賹崿F光學參數薄膜和納米結構的表征分析,適用于薄膜材料的快速測量表征。支持多角度,微光斑,可視化調平系統等高兼容性靈活配置,多功能模塊定制化設計。

1.高精度橢偏測量解決方案;

2.超高精度、快速無損測量;

3. 支持多角度、微光斑、可視化調平系統功能模塊靈活定制;

4.  豐富的數據庫和幾何結構模型庫,保證強大數據分析能力。

二、光譜橢偏儀產品特點

      1.采用高性能進口復合光源,光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (380-1000nm),可支持擴展紫外到近紅外范圍 (193-2500nm)

2.  高精度旋轉補償器調制、PCRSA配置,實現Psi/Delta光譜數據高速采集;

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3. 支持系列配置靈活,可根據不同應用場景支持多功能模塊化定制;

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4. 數百種材料數據庫、多種算法模型庫,涵蓋了目前絕大部分的光電材料;

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三、產品應用

       廣泛應用于鍍膜工藝控制、tooling校正等測量應用,實現光學薄膜、納米結構的光學常數和幾何特征尺寸快速的表征分析。

  

 

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